HCPL-7721-000E   產品描述

40 ns的傳播延遲，CMOS光耦合器

可靠性數據顯示包括Avago Technologies（安華高科技）的資格，該產品系列的可靠性試驗數據。所有這些產品都使用相同的LED，類似IC，并在相同的包裝材料，過程，壓力條件和測試。表1和表2中的數據反映了每個通道的基礎上的設備的實際測試數據。應力之前，所有的設備都使用了回流焊過程（260℃，5秒。2X）和20的溫度預處理
循環(huán)（-55°C至+125°C，15分鐘的停留時間，5分鐘傳輸）。這些數據均取自Avago Technologies（安華高科技）Avago Technologies（安華高科技）內部過程，材料規(guī)格，設計，標準，統計過程控制設備的測試。他們沒有轉移到其他廠商的類似部件類型。
工作壽命測試
對于有效的系統的可靠性的計算，它是必要的調整時間，當系統未處于操作。請注意，如果您使用的是MIL-HDBK-217元件的可靠性的預測，結果可能不具有可比性由于不同的條件和因素，已經占到了MIL-HDBK-217表2中給出。例如，你的申請將行使所有可用的頻道在全額定功率與LED（S）總是ON Avago Technologies（安華高科技）的測試是不可能的。因此，您的應用程序的總功率和占空比必須仔細考慮表2的預測進行比較時，
采用MIL-HDBK-217。
定義失敗
無法切換，即“功能故障”，是定義
本數據表中的失敗。具體而言，發(fā)生故障時，該設備不與2倍的最低推薦的驅動電流（但不超過最大額定）或失敗切換OFF切換ON當沒有輸入電流。
故障率預測
證明點測量到故障時間（MTTF）在絕對最大應力狀態(tài)。在表2中使用的故障率預測的Arrhenius加速
的關系，在混合部分的MIL-HDBK-217被用作在0.43eV的激活能。
應用信息
表1和表2中的數據的設備上獲得的高溫工作壽命的持續(xù)時間可以達到1000小時。假定一個指數（隨機）的故障分布，表示在單位FIT（每十億的移動設備小時的故障），只在隨機故障部的可靠性曲線定義。
 

 
特點
5 V的CMOS兼容性
最大為20 ns。提案延遲歪斜
高速：25萬桶
40 ns最大值。提案延遲
10千伏/最小共模抑制
-40°C至85°C溫度。范圍
安全和法規(guī)認證：
UL認證：1分鐘3750 V rms的。每包括UL1577
CSA元件驗收通知＃5
符合IEC / EN/ DIN標準EN60747-5-2 VIORM股權060= 630 V峰值
可用的選項是：
060=符合IEC / EN / DIN EN60747-5-2股權
300 =鷗翼表面貼裝選項
500 =帶和卷軸包裝選項
XXXE=無鉛期權
應用
數字現場總線隔離：CC-Link的，的DeviceNet，PROFIBUS，SDS
交流等離子體顯示器的電平轉換
復用的數據傳輸
計算機外圍設備接口
微處理器系統接口